Previous |  Up |  Next

Article

References:
[1] Zolotuchin V. K., Oščapovskij V. V.: Ukrajin. chim. žur. 26, 510 (1960).
[2] Mironov N. N., Mazin A. I.: Žur. po chim. i chim. technol. 3, 53 (1960).
[3] Pastorek R., Březina F.: Mh. Chem. 97, 1095 (1966).
[4] Frei V.: Čs. farm. 11, 397 (1962).
[5] Rafj P., Brotz W.: Z. anal. Chem. 133, 241 (1951).
[6] Ševčenko L. L.: Usp. chim. 32, 457 (1963).
[7] Juchněvič G. V.: Usp. chim. 32, 1397 (1963).
[8] Březina F., Rosický J., Pastorek R.: Mh. Chem. 96, 553 (1965).
[9] Frei V., Čáslavská V.: Chem. zvesti 16, 794 (1962).
[10] X-Ray Difraction Data Cards. American Society for Testing Materials, Philadelphia, doplněno do roku 1955.
[11] Manning P. G.: Can. J. Chem. 41, 2557 (1963).
[12] Pjatnickij I. V.: Usp. chim. 32, 93 (1963).
[13] Cozzi D., Vivarelli S.: Z. Elektrochem. 58, 907 (1954).
[14] Frei V., Laub J., Čáslavská V., Mach K.: Chem. zvesti 18, 739 (1964).
Partner of
EuDML logo